改善行动报告 (8D)

公司CAR 编号:V0614VGS FA/CAR 编号:CT061120/ S6032319C

产品料号:客户名称:N/A

UF4004-E3

生产批号:0512GCAR 接收日期:4/18/2025

失效模式:ShortCAR 报告日期:4/21/2025

1.问题解决小组:

组成日期:4/18/2025

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事业部部长

**

品质部部长

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生产部部长

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技术科经理

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VGS 线产品工程师

2.问题描述：

2.1 问题陈述:

客户投诉4 个产品短路。

2.2 问题描述详细信息:

测试工程:生产批号失效数量失效比率失效模式

功能测试0512G47%短路

3.临时性纠正措施:

3.1 库存/在制品检查:

1.对在制品进行抽样测试IR,设定为VR=410V;IR<5uA,失效率为 0/24K PCS.

2.对库存进行抽样测试IR, 设定为VR=410V;IR<5uA,失效率为 0/24K PCS.

3.2 工艺制程/OQC 限制措施:

3.2.1 查核2025 年3 月份PE1 产品的可靠性监控情况，HTRB,PCT,TC 和Forward Surge 总共各

做了7 个批次，每种试验的抽样量为315 支，全部合格。

3.2.2 查核2025 年3 月份UF4004 产品的OQC 的检验情况，无电性不良记录。

3.2.3 将该产品列入OQC 加严检验清单中，OQC 对UF4004 产品连续10 个批次执行加严检验

〔3/28/2006〕。

3.3 风险评估:

风险评估水平为一般〔50〕，不需要采取强制对策。

4.根本原因分析:

改善行动报告 (8D)

4.1 退回样品的初始确认(外观/电性)(如适用):

参照VGSC 失效分析报告T061120。

4.2 退回样品的失效分析:

4.2.1 失效分析结果总结:

4.2.1.1.典型IMC 失效-外表有氧化层，导致芯片烧毁。

4.2.2 失效分析详细状况:

参照VGSC 失效分析报告T061120。(参考VGST 提供的UG2 IR 不良模拟试验及FA 报告)

4.3 失效原因:

4.3.1 失效机理:

由于焊接炉温异常,导致焊接材料产生〞IMC〞现象,在后期器件应用中发生失效.

(参考VGST 提供的UG2 IR 不良模拟试验及FA 报告)

4.3.2 可能的原因/要素:

4.3.2.1 焊接炉温异常,导致焊接材料产生〞IMC〞现象.

4.3.2.2 晶粒制程异常，导致玻璃钝化层披覆不良

4.4 根本原因:

4.4.1 最可能原因的分析:

焊接炉温异常,导致焊接材料产生〞IMC〞现象.

4.4.2 根本原因的结论:

同4.3.2.1

经过模拟试验及排查, 最可能的原因是由于出炉材料在焊接炉出炉口未及时清理,导致焊接炉

内部产生卡炉, 处于焊接炉高温区的材料产生〞IMC〞现象.

正常炉温曲线: 峰值温度365C.

改善行动报告 (8D)

卡炉后炉温异常曲线:峰值温度400C

卡炉的原因如以下列图: 由于员工操作疏忽,未及时清理出炉材料.

改善行动报告 (8D)

4.4.3 不良未发现/逃脱的原因:

TMTT 测试时，该支二极管尚未损坏，各项测试参数符合测试标准。

5.永久性改善措施:

5.1 针对根本原因:

工程纠正措施前纠正措施后时间负责人

1出炉口未安装报警装置出炉口安装报警装置,材4/28/2025**

料出炉后发出鸣叫警报声**

提醒操作员清理材料, 材

料清理后,报警声停止

2未及时清理出炉后材料宣导并监督执行及时清理4/21/2025**

出炉后材料的操作纪律

安装报警装置如以下列图:

材料卡住

改善行动报告 (8D)

5.2 针对未发现/逃脱的原因:

工程改善行动前改善行动后时间负责人

5.3 提供平安有效的日期码:

5.4 纠正措施有效性的验证:

6.实施永久性的纠正措施:

纠正措施的实施方案

7. 水平展开与系统化措施:

7.1 水平展开:

工程系统化措施时间负责人文件号

7.2 系统化措施:

8.总结与小组奖励:

报警探头